Conheça o MEV de Bancada

Compacto, poderoso, pronto para análise.

Desvende o Incomparável

Tecnologia de ponta em microscopia eletrônica, projetada para laboratórios modernos

TM4000Plus III

Série HITACHI TM4000 III

O MEV de bancada da Hitachi é um equipamento projetado para simplificar e aprimorar suas investigações nas áreas de materiais, mecânica, química, biologia e muitas outras. Mesmo que você não seja um especialista em microscopia eletrônica, permita-nos apresentar os motivos pelos quais essa é uma escolha excepcional para seu laboratório.

  • Interface intuitiva e simples de usar
  • Baixo vácuo com troca automática através do software
  • Observação automatizada de múltiplas amostras com Receita
  • Análise automática de partículas mais rápida: Função de alta corrente
  • Função de monitoramento de filamentos

Tecnologia Confiável e Evoluída

Nosso MEV de bancada é o resultado de anos de refinamento e avanços contínuos da empresa com mais de 80 anos de tradição em microscopia eletrônica. Agora na sétima geração, este sistema maduro atingiu um nível de qualidade que nos colocou como líderes mundiais e no Brasil em microscopia eletrônica de bancada. Com mais de 100 unidades instaladas em todo o país, você estará investindo em uma tecnologia testada e aprovada.

TM4000Plus III
TM4000Plus III

Flexibilidade e Resultados Precisos

A família de microscópios da série TM4000 III oferece uma ampla gama de opções de tensão de aceleração, variando de 5kV a 20kV, em todos os modelos. Essa flexibilidade permite resultados de caracterização elementar ainda mais precisos com o auxílio da Espectroscopia de Dispersão de Energia (EDS). Isso significa que você pode obter insights detalhados sobre a composição dos materiais que está estudando.

Imagens Detalhadas e Flexíveis

Nosso modelo "Plus" vem equipado com um detector otimizado para elétrons secundários (SE) em baixo vácuo, oferecendo mais versatilidade em suas análises. Além disso, a combinação das imagens dos detectores BSE (elétrons retroespalhados) e SE em uma única imagem proporciona contrastes ricos em informações, mostrando tanto a topografia quanto os detalhes de peso atômico dos materiais.

TM4000Plus III
TM4000Plus III

Recursos Avançados de Caracterização

Nossos MEVs possibilitam a integração de sistemas de Espectroscopia de Raio-X Dispersiva de Energia (EDS) dos principais fabricantes do mercado. Com um detector de grande área (30mm² a 65mm²), você obterá resultados de qualidade insuperável e alta resolução em suas análises de composição.

Observações sem Barreiras

O modo de baixo vácuo da família TM4000 III, padrão de fábrica em todos os modelos, permite a visualização de amostras não condutoras sem a necessidade de recobrimento. Compatível com qualquer porta-amostra, essa funcionalidade amplia suas possibilidades de análise. Além disso, essa observação pode ser realizada tanto com o detector BSE quanto com o detector SE, especialmente projetado para utilização em baixo vácuo.

TM4000Plus III
TM4000Plus III

Fluxo de Trabalho Simplificado

Diferente de outros equipamentos, nosso sistema de vácuo pode ser ativado imediatamente após ligar o MEV, eliminando qualquer espera. A transição entre os modos de alto vácuo e baixo vácuo é feita de maneira simples e rápida, com um único clique no software.

Manutenção Descomplicada

Para sua comodidade, a manutenção básica pode ser realizada por você mesmo, conforme orientações oferecidas durante o treinamento. Além disso, nossa tecnologia robusta minimiza a probabilidade de problemas, resultando nos menores custos de manutenção do mercado!

TM4000Plus III
TM4000Plus III

Navegação Intuitiva e Resultados Excelentes

O sistema de navegação por câmera simplifica sua experiência, tornando a operação mais fácil. Combinado ao sistema de geração de relatórios, você terá uma ferramenta poderosa e de uso intuitivo para obter resultados excelentes.

Facilidade de Uso

Desenvolvido pensando na experiência do usuário, o TM4000 III simplifica processos complexos sem comprometer a qualidade.

TM4000Plus III

Próximos Eventos

Encontre-nos nos principais eventos científicos e tecnológicos

04 a 11 de setembro de 2026

II Congresso de Microscopia e Microanálise da UFV

O II Congresso de Microscopia e Microanálise da UFV será realizado em setembro de 2026 e reunirá estudantes, pesquisadores e empresas interessados na área.

Local: Viçosa - MG

27 de setembro a 01 de outubro de 2026

XXIV B-MRS Meeting

A Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais e o Comitê Organizador do Encontro da B-MRS convidam cordialmente a comunidade global de pesquisa em materiais a participar do Encontro de 2026, que será realizado no Centro de Convenções UP Experience em Curitiba, Paraná, Brasil, de 27 de setembro a 1º de outubro de 2026.

Local: Curitiba - PR

Downloads

Materiais técnicos, catálogos e outros links

Catálogo TM4000 III

Especificações detalhadas, dimensões e características técnicas do TM4000 III.

Download PDF (0.5MB)

Catálogo Image-Pro by Media Cybernetics

Uma plataforma de software inteligente que simplifica análises complexas.

Download PDF (5.9MB)

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